MIL-HDBK-217G
mosch 
在2010年的时候介绍过MIL-HDBK-217G已经计划中。后来一直没有关注过，这几天网上看到相关的信息才又想起来。所以又去查了一下，还没有正式发布，也就是说现在的F版本还是有效的，而那个版本却是早在1995年就已经发布了，对于电子产品实在是太古老了。
1995年发布了MIL-STD-217F后美国军方决定停止这个标准的更新。后续到是有RIAC发展了RIAC-HDBK-217PLUS，主要区别就是数据库更新一些，但是模型基本没有多大变化。但是由于美国后来陆续发现在使用民用器件的过程中武器的可靠性存在很多可靠性问题，故而又决定继续发展MIL-HDBK-217，延续之前的版本，新的版本号为G。在G版本中会补充最新的元器件失效数据，同时还会增加失效模式。我看到官方说征集意见稿的截止时间为2010年6月18日，但是现在都2012年了还没有任何的更新，不知道这个标准的更新项目是否出现了啥问题，所以才导致难产。无论如何MIL-HDBK-217F对于可靠性的推动是巨大的，希望能够看到这份标准的继续发展。
大家如果想了解的话可以去下面的网页查看，希望可以看到G版本发布的那一天吧。
MIL-HDBK-217继续发挥余热
昨天去浦东图书馆看书，顺便看了下赛宝出的可靠性的文摘（页数没几页，也不知道应该成为什么），有一期介绍到MIL-HDBK-217的更新计划，当初非常的惊奇，因为印象中美国军方已经在1995年停止更新了，怎么又继续维护了呢，呵呵。
更新计划如下：
阶段1，G版本草案修订完成：2009年9月25日
阶段1，G版本最终标准发布：2010年3月31日
阶段2，阶段2计划完成：2010年12月30日
阶段3，H版本草案修订完成：2011年9月30日
阶段3，H版本最终标准发布：2011年12月30日
不过我网上搜索了一下发现G版本的最终发布时间有些人在说是2010年底，具体日期也不知道是啥了，另外我准备去官方网站查，但是无法访问。
无论如何217能够继续维护也是好事了，希望在新版本中能够见到大的改进和突破吧，期待。