<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss version="2.0"
	xmlns:content="http://purl.org/rss/1.0/modules/content/"
	xmlns:wfw="http://wellformedweb.org/CommentAPI/"
	xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
	xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom"
	xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
	xmlns:slash="http://purl.org/rss/1.0/modules/slash/"
	>

<channel>
	<title>摩西的可靠不可靠</title>
	<atom:link href="http://www.mosch.cn/index.php/feed/" rel="self" type="application/rss+xml" />
	<link>http://www.mosch.cn</link>
	<description>Mosch&#039; Reliable &#38; Unreliable</description>
	<lastBuildDate>Sun, 13 May 2012 14:10:20 +0000</lastBuildDate>
	<language>en</language>
	<sy:updatePeriod>hourly</sy:updatePeriod>
	<sy:updateFrequency>1</sy:updateFrequency>
	<generator>http://wordpress.org/?v=3.3.1</generator>
		<item>
		<title>机电部件的可靠性预计</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/nswc2009/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/nswc2009/#comments</comments>
		<pubDate>Sat, 12 May 2012 12:07:53 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[NSWC]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性预计]]></category>
		<category><![CDATA[机械]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=886</guid>
		<description><![CDATA[美国海军资助了机电部件的可靠性预计，大家一般称为NSWC（Handbook of Reliability Prediction Procedures for Mechanical Equipment），最新版本为2009年1月。 这份手册对众多的机电部件给出了可靠性预计模型，其中包括如下部件： Seals and gaskets, Springs, Solenoids and contactors, Bearings, Gears and splines, Actuators, Pumps, Fluid filters, Brakes and clutches, Compressors, Electric motors, Accumulators and reservoirs, Threaded fasteners,  Mechanical couplings, Slider crank mechanisms, Sensors and transducers, Shafts, Belt and chain drives, Fluid conductors and Miscellaneous parts 大家有兴趣了解详细模型的可以搜索一下这个文件名，记得要找2009版而不是2006版。 另外美国海军同时还资助了一个软件项目，这个软件可以用来进行NSWC上面所有机电部件的可靠性预计，所有的模型完全符合NSWC里面的内容，下面是这个软件的网址，我本来试图去下载，但是貌似美国海军的链接无法访问，等以后再找机会下载吧，如果有人下载了记得给我们分享下。另外提醒一下，这个软件是对大家免费的哦，呵呵。 http://www.mechrel.com 更正一下最新版本为2011版，另外软件我也已经下载好了，文件很小，不过貌似中国的IP是被拒绝访问的，大家可以找VPN变成美国的就可以下载了。同时提供2011版的PDF文件和软件。（PDF文件和软件的下载地址为美国海军的网站，可以通过Google搜索获得）]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>美国海军资助了机电部件的可靠性预计，大家一般称为NSWC（Handbook of Reliability Prediction Procedures for Mechanical Equipment），最新版本为2009年1月。</p>
<p>这份手册对众多的机电部件给出了可靠性预计模型，其中包括如下部件：</p>
<p>Seals and gaskets, Springs, Solenoids and contactors, Bearings, Gears and splines, Actuators, Pumps, Fluid filters, Brakes and clutches, Compressors, Electric motors, Accumulators and reservoirs, Threaded fasteners,  Mechanical couplings, Slider crank mechanisms, Sensors and transducers, Shafts, Belt and chain drives, Fluid conductors and Miscellaneous parts</p>
<p>大家有兴趣了解详细模型的可以搜索一下这个文件名，记得要找2009版而不是2006版。<span id="more-886"></span></p>
<p>另外美国海军同时还资助了一个软件项目，这个软件可以用来进行NSWC上面所有机电部件的可靠性预计，所有的模型完全符合NSWC里面的内容，下面是这个软件的网址，我本来试图去下载，但是貌似美国海军的链接无法访问，等以后再找机会下载吧，如果有人下载了记得给我们分享下。另外提醒一下，这个软件是对大家免费的哦，呵呵。</p>
<p><a href="http://www.mechrel.com/">http://www.mechrel.com</a></p>
<p>更正一下最新版本为2011版，另外软件我也已经下载好了，文件很小，不过貌似中国的IP是被拒绝访问的，大家可以找VPN变成美国的就可以下载了。同时提供2011版的PDF文件和软件。（PDF文件和软件的下载地址为美国海军的网站，可以通过Google搜索获得）</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/nswc2009/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>冰箱免费保修12年？</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/12years/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/12years/#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 10 May 2012 12:48:07 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[生活随笔]]></category>
		<category><![CDATA[12年]]></category>
		<category><![CDATA[冰箱]]></category>
		<category><![CDATA[包修]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=882</guid>
		<description><![CDATA[今天上网看到某品牌的冰箱对12大部件承诺免费保修12年（包括压缩机、继电器、过热保护器、风扇电机、温控器、主控板、电源板、显示板、变频板、磁敏温度开关、电磁阀、传感器），非常的彪悍啊。 对于敢做出这样承诺的表示赞赏，虽然他们的可靠性做的一般，不过做出这样的承诺肯定事先做过评估的，希望以后更多的家用电器能够给出更好的包修条款吧。 无论如何国货还是越来越好的，支持一下他们，相信以后会做的更好的。 免费保修12年的零部件包含了冰箱的“大脑”：温控器、主控板、电源板、显示板、变频板，还有冰箱的“心脏”：压缩机。在承诺的12年免费保修时期内，不收取由于上述指定零部件故障产生的上门费、维修费、部件费、交通费等任何费用。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>今天上网看到某品牌的冰箱对12大部件承诺免费保修12年（包括压缩机、继电器、过热保护器、风扇电机、温控器、主控板、电源板、显示板、变频板、磁敏温度开关、电磁阀、传感器），非常的彪悍啊。</p>
<p>对于敢做出这样承诺的表示赞赏，虽然他们的可靠性做的一般，不过做出这样的承诺肯定事先做过评估的，希望以后更多的家用电器能够给出更好的包修条款吧。</p>
<p>无论如何国货还是越来越好的，支持一下他们，相信以后会做的更好的。</p>
<p>免费保修12年的零部件包含了冰箱的“大脑”：温控器、主控板、电源板、显示板、变频板，还有冰箱的“心脏”：压缩机。在承诺的12年免费保修时期内，不收取由于上述指定零部件故障产生的上门费、维修费、部件费、交通费等任何费用。</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/05/12years/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>可靠性历史</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/reliability_history/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/reliability_history/#comments</comments>
		<pubDate>Mon, 23 Apr 2012 15:33:28 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性历史]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=877</guid>
		<description><![CDATA[翻译了一篇RAIC的可靠性历史的文章，希望可以帮助大家更好的了解可靠性的历史。由于太长，所以全文请感兴趣的下载阅读。附件见文末。 可靠性现在已经为大家所熟知并被广泛应用到产品开发过程中。可靠性大概起于1816年，可靠性这个词最早源于诗人Samuel Taylor Coleridge。在统计上来讲，可靠性是测试或者测试设备的一致性，经常用来形容测试。与可靠性相反的就是随机错误。从物理上来讲可靠性是测量的一致性。如果一个测试是可靠的，那么可以认为我们能够持续获得相同的测试结果。例如一个测试设计用来测量某个特性，那么每次的测量结果都应该是一致的。然而在二战前，可靠性这个名词更多的含义是独立性或者可重复性。 让我们先来了解一下早期的可靠性的定义吧。现代的可靠性概念由美国军方在19世纪40年代重新定义并沿用至今。初始的定义为产品能够如预期一样工作。现在的定义包含了产品的使用时间，服务水平，软件和人等各种因素。这些因素就当今的技术而言每天都会存在。 早期的可靠性应用可能会与电报相关。那时候的电报由电池供电，也就是简单的晶体管和接受器相连。其主要的失效模式是导线的断裂或者电池的电压过低。在灯泡，电话和发电机的出现之前可靠性没有多少变化。1915年电子管的出现代表了可靠性在电子领域的现代应用。1920年汽车的大量生产代表了可靠性在机械领域的应用。19世纪20年代，贝尔实验室的Walter A. Shewhart博士提出利用统计原理来进行产品的质量控制改善，统计开始作为一个度量工具集成到可靠性工作中。 在这时，设计开发人员对产品可靠性负责，而维修人员则负责进行失效分析。当然了也没有任何规定说明应该做这些。在19世纪20年代到30年代期间，Taylor致力于让产品的生产过程更有效、更稳定。他是第一个提出把工程技术从管理和控制领域剥离出来的人。1927年Charles Lindberg要求他的跨洋飞行能够持续40小时工作而不需要进行任何的维护。30年代在几个行业有很多独立的项目开始，但是质量与流程的量化仍然处于早期阶段，不过依然在持续发展。Wallodie Weibull这个时期在瑞典从事材料的失效研究，他发明了一个分布，也就是现在的Weibull分布。30年代，Rosen和Rammler也同时在研究相似的分布来描述煤粉的纯度。 直到40年代，可靠性和可靠性工程仍然不存在。第二次世界大战引爆了巨大的军用电子设备需求，其中包括开关，便携式电子管无线电，雷达和雷管。电子管电脑在二战快结束的时候刚刚发明，但是直到二战结束也没有投入生产。在战争开始时发现有50%的库存飞机无法满足美国军方的质量要求。更加严重的是这个世界很多新材料的实际退化性能仍然需要测试。1945年Miner在ASME杂志发表了《疲劳的累积失效》论文。B. Epstein于1948年二月在应用物理杂志发表了《断裂问题的统计分析》。这时候军方可靠性应用仅局限于电子管，其中有雷达系统或者是其它的电子设备。这些系统存在着很多问题并且直接导致了战争费用极其高昂。对于舰艇设备，据估计任何时刻都有50%的设备无法工作，而电子管就是系统无法工作的主要原因，敲打系统或者重新插拔电子管是解决电子系统失效的两种主要方案。这也最终导致了军方的极大关注，他们无法承受一半的设备无法使用。如果这一问题无法解决，那么产品的使用和运输费用会十分庞大。 1948年国际电子工程师协会成立了可靠性委员会，Richard Rollman是第一任主席。同年Z.W. Birnbaum在华盛顿大学成立了统计研究所，他通过与海军研究所的长期合作强化并拓展了统计的应用。 50年代开始在军用产品和消费产品中出现了更多的可靠性问题。初期的电子管计算机需要一个很大的房间才够放得下，功率有数千瓦，不过只有1024个字节的内存，平均没几个小时就出现一次失效。还好Sperry解决方案允许我们把失效的部分断电来更换电子管从而使得系统重新工作。1951年Rome Air Development Center (RADC)在纽约的Rome成立，他的主要职责是为美国空军开展可靠性相关问题的研究。同年Wallodi Weibull在应用物理杂志英文版发表了第一篇论文，论文的名称为《一个典型的统计分布函数》，1959年他为美国军方撰写了《退化和蠕变的统计数据分析：基本概念和通用方法》59-400报告。1950年美国军方还成立了可靠性研究小组。这个小组被称为“the Advisory Group on the Reliability of Electronic Equipment,”，简称AGREE。在1952年这个小组发表了第一份报告给出了三个建议来开发可靠的系统 1.        我们需要供应商来开发更好更稳定的元器件 2.        军方对元器件供应商要提出质量和可靠性要求 3.        为了更好的开展失效分析，需要收集实际的现场数据 在1954年初IRE也举办了研讨会并发表《电子产品的可靠性和质量控制的转变》，后来此研讨会和IEEE的研讨会合并成为Reliability and Maintainability Symposium（http://theRIAC.org）。1955年，一个电子连接器和接触器的研讨会开始关注可靠性物理和失效模式。另外一些研讨会也在这个年代关注一些主要的可靠性主题。同年RADC的Joseph Naresky发布了《Reliability Factors for Ground Electronic Equipment》。在1956年ASQC邀请大家在美国质量峰会上分享可靠性相关的论文。无线电工程师，ASME，ASTM和统计应用杂志刊登了可靠性相关的研究报告。 [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>翻译了一篇RAIC的可靠性历史的文章，希望可以帮助大家更好的了解可靠性的历史。由于太长，所以全文请感兴趣的下载阅读。附件见文末。</p>
<p>可靠性现在已经为大家所熟知并被广泛应用到产品开发过程中。可靠性大概起于1816年，可靠性这个词最早源于诗人Samuel Taylor Coleridge。在统计上来讲，可靠性是测试或者测试设备的一致性，经常用来形容测试。与可靠性相反的就是随机错误。从物理上来讲可靠性是测量的一致性。如果一个测试是可靠的，那么可以认为我们能够持续获得相同的测试结果。例如一个测试设计用来测量某个特性，那么每次的测量结果都应该是一致的。然而在二战前，可靠性这个名词更多的含义是独立性或者可重复性。</p>
<p>让我们先来了解一下早期的可靠性的定义吧。现代的可靠性概念由美国军方在19世纪40年代重新定义并沿用至今。初始的定义为产品能够如预期一样工作。现在的定义包含了产品的使用时间，服务水平，软件和人等各种因素。这些因素就当今的技术而言每天都会存在。</p>
<p>早期的可靠性应用可能会与电报相关。那时候的电报由电池供电，也就是简单的晶体管和接受器相连。其主要的失效模式是导线的断裂或者电池的电压过低。在灯泡，电话和发电机的出现之前可靠性没有多少变化。1915年电子管的出现代表了可靠性在电子领域的现代应用。1920年汽车的大量生产代表了可靠性在机械领域的应用。19世纪20年代，贝尔实验室的Walter A. Shewhart博士提出利用统计原理来进行产品的质量控制改善，统计开始作为一个度量工具集成到可靠性工作中。<span id="more-877"></span><br />
在这时，设计开发人员对产品可靠性负责，而维修人员则负责进行失效分析。当然了也没有任何规定说明应该做这些。在19世纪20年代到30年代期间，Taylor致力于让产品的生产过程更有效、更稳定。他是第一个提出把工程技术从管理和控制领域剥离出来的人。1927年Charles Lindberg要求他的跨洋飞行能够持续40小时工作而不需要进行任何的维护。30年代在几个行业有很多独立的项目开始，但是质量与流程的量化仍然处于早期阶段，不过依然在持续发展。Wallodie Weibull这个时期在瑞典从事材料的失效研究，他发明了一个分布，也就是现在的Weibull分布。30年代，Rosen和Rammler也同时在研究相似的分布来描述煤粉的纯度。</p>
<p>直到40年代，可靠性和可靠性工程仍然不存在。第二次世界大战引爆了巨大的军用电子设备需求，其中包括开关，便携式电子管无线电，雷达和雷管。电子管电脑在二战快结束的时候刚刚发明，但是直到二战结束也没有投入生产。在战争开始时发现有50%的库存飞机无法满足美国军方的质量要求。更加严重的是这个世界很多新材料的实际退化性能仍然需要测试。1945年Miner在ASME杂志发表了《疲劳的累积失效》论文。B. Epstein于1948年二月在应用物理杂志发表了《断裂问题的统计分析》。这时候军方可靠性应用仅局限于电子管，其中有雷达系统或者是其它的电子设备。这些系统存在着很多问题并且直接导致了战争费用极其高昂。对于舰艇设备，据估计任何时刻都有50%的设备无法工作，而电子管就是系统无法工作的主要原因，敲打系统或者重新插拔电子管是解决电子系统失效的两种主要方案。这也最终导致了军方的极大关注，他们无法承受一半的设备无法使用。如果这一问题无法解决，那么产品的使用和运输费用会十分庞大。<br />
1948年国际电子工程师协会成立了可靠性委员会，Richard Rollman是第一任主席。同年Z.W. Birnbaum在华盛顿大学成立了统计研究所，他通过与海军研究所的长期合作强化并拓展了统计的应用。</p>
<p>50年代开始在军用产品和消费产品中出现了更多的可靠性问题。初期的电子管计算机需要一个很大的房间才够放得下，功率有数千瓦，不过只有1024个字节的内存，平均没几个小时就出现一次失效。还好Sperry解决方案允许我们把失效的部分断电来更换电子管从而使得系统重新工作。1951年Rome Air Development Center (RADC)在纽约的Rome成立，他的主要职责是为美国空军开展可靠性相关问题的研究。同年Wallodi Weibull在应用物理杂志英文版发表了第一篇论文，论文的名称为《一个典型的统计分布函数》，1959年他为美国军方撰写了《退化和蠕变的统计数据分析：基本概念和通用方法》59-400报告。1950年美国军方还成立了可靠性研究小组。这个小组被称为“the Advisory Group on the Reliability of Electronic Equipment,”，简称AGREE。在1952年这个小组发表了第一份报告给出了三个建议来开发可靠的系统<br />
1.        我们需要供应商来开发更好更稳定的元器件<br />
2.        军方对元器件供应商要提出质量和可靠性要求<br />
3.        为了更好的开展失效分析，需要收集实际的现场数据<br />
在1954年初IRE也举办了研讨会并发表《电子产品的可靠性和质量控制的转变》，后来此研讨会和IEEE的研讨会合并成为Reliability and Maintainability Symposium（<a href="http://theriac.org/" target="_blank">http://theRIAC.org</a>）。1955年，一个电子连接器和接触器的研讨会开始关注可靠性物理和失效模式。另外一些研讨会也在这个年代关注一些主要的可靠性主题。同年RADC的Joseph Naresky发布了《Reliability Factors for Ground Electronic Equipment》。在1956年ASQC邀请大家在美国质量峰会上分享可靠性相关的论文。无线电工程师，ASME，ASTM和统计应用杂志刊登了可靠性相关的研究报告。</p>
<p>1957年，AGREE委员会发表了一份报告做了如下一些建议。<br />
1.        绝大多数电子管无线电系统遵守浴盆曲线。如果我们开发可替换的电子模块，那么就能够在系统失效后很快的维修并让系统恢复工作，后来电子模块被称为标准电子模块。<br />
2.        建议执行正式的寿命模拟测试并举于统计来获得相应产品的置信度。<br />
3.        建议执行时间更加应力条件更加严格的环境测试，其中包括温度和振动应力。后来这就是人们所熟知的AGREE测试，最终成为了美军标781.<br />
4.        最后一个建议是进行可靠性的等级定义。<br />
报告中对可靠性的定义为“产品在规定的条件下，规定的时间内执行特定功能不失效的概率”。另外一个关键的《可靠性预计》报告也在1957年由Redstone Arsenal的Robert Lusser发表，他指出60%的军用导弹失效是由于元器件引起的。他同时提出现有的手段对于获取电子元器件的质量与可靠性是欠缺的，我们需要做一些其它工作。ARINC设置了一个专门的流程来和电子管供应商一起来降低早期失效。在这个年代末RCA在TR1100中发布了一些军用元器件的失效率。RADC以此为基础进行完善并产生了军用手册217。这个年代涌现了很多的可靠性专家，他们取得了很多的成果。一些研讨会上发表的论文展示了现场失效的改善。1957年Ed Kaplan综合了他的真空管可靠性的非参数统计论文和Paul Meyer的生物统计论文最终在JASA杂志发布了删失数据非参数极大似然估计（又被称为Laplan-Meyer）的可靠性方程。后续F.E. Dreste于1958年在电子工程师发表了《设计工程师可靠性手册》（第77期的508页至512页），W.F. Leubbert于1956年在I.R.R.发表的《电子可靠性的系统方法》（第44期的523页）。在接下来的几十年里，Birnbaum为概率方差、非参数统计、复杂系统可靠性、累计失效模型、竞争风险、生存分布和死亡率做出了巨大贡献。在这个年代末C.M. Ryerson于1959年在IRE上发表了《可靠性历史》论文。</p>
<p><a href="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/04/A-short-story-of-reliability.pdf">A short story of reliability</a>（请点击下载全文）</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/reliability_history/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Probability Distributions Used in Reliability Engineering</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/probability_distributions/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/probability_distributions/#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 05 Apr 2012 13:13:09 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[书]]></category>
		<category><![CDATA[分布]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性]]></category>
		<category><![CDATA[软件]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=871</guid>
		<description><![CDATA[周末网上到处折腾下载了些电子书和软件。当然了还是可靠性相关的东东了。 Probability Distributions Used in Reliability Engineering就是其中之一，后来偶然发现了这本书配套的一个软件，这个软件可以生成各种分布的图，颜色坐标等都可以调，另外可以把多个分布重叠在一张图上，大家应该还是会有这样的机会需要用到的。 电子书和软件的界面如下，由于软件太大，这里就不发出来了，有需要的可以联系我。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>周末网上到处折腾下载了些电子书和软件。当然了还是可靠性相关的东东了。</p>
<p>Probability Distributions Used in Reliability Engineering就是其中之一，后来偶然发现了这本书配套的一个软件，这个软件可以生成各种分布的图，颜色坐标等都可以调，另外可以把多个分布重叠在一张图上，大家应该还是会有这样的机会需要用到的。</p>
<p>电子书和软件的界面如下，由于软件太大，这里就不发出来了，有需要的可以联系我。</p>
<p><a href="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/04/Probability-Distributions-Used-in-Reliability-Engineering.jpg"><img class="aligncenter size-full wp-image-872" title="Probability Distributions Used in Reliability Engineering" src="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/04/Probability-Distributions-Used-in-Reliability-Engineering.jpg" alt="" width="155" height="200" /><span id="more-871"></span></a></p>
<p><a href="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/04/Plot.png"><img class="aligncenter size-medium wp-image-873" title="Plot" src="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/04/Plot-300x221.png" alt="" width="300" height="221" /></a></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/04/probability_distributions/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Arrhenius方程的电子伏特的取值</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/arrhenius_ea/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/arrhenius_ea/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 28 Mar 2012 14:08:27 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[ea]]></category>
		<category><![CDATA[活化能]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=867</guid>
		<description><![CDATA[相信很多人都接触过Arrhenius方程，只要是碰到加速寿命试验都是用到，这时候大家最头疼的应该就是Ea的取值了，到处找却发现很多都不一样，而且更多是给个范围，到底我们应该选择多少呢，这也算是个学问吧。 首先说一下大家见的最多的0.7eV，这个如果大家仔细算一下刚好对于温度增加10度，寿命降低一半，呵呵，这样一来大家应该会比较容易记住才对的。如果保守点可以取0.6。当然了这更多的只是应用在电子产品中，如果是其它产品还是需要再确认的，任何东西都不可能通吃的，下面是是一些其它推荐供大家参考。 Silicon Oxide 1-1.05 Electromigration 0.5-1.2 Corrosion 0.3-.06, 0.45 typ. Internetallic Growth Al/Au 1-1.05 FAMOS Transistors Charge Loss 0.8 Contamination 1.4 Oxide Effects 0.3 IC MOSFETs, Threshold Voltage Shift 1.2 Plastic Excapsulated Transistors 0.5 MOS Devices 1.1-1.3, Weak populations 0.3-0.9 Flexible Printed Circuits Below 75C 0.4 Flexible Printed Circuits above 75C 1.4 Opto Electric devices [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>相信很多人都接触过Arrhenius方程，只要是碰到加速寿命试验都是用到，这时候大家最头疼的应该就是Ea的取值了，到处找却发现很多都不一样，而且更多是给个范围，到底我们应该选择多少呢，这也算是个学问吧。</p>
<p>首先说一下大家见的最多的0.7eV，这个如果大家仔细算一下刚好对于温度增加10度，寿命降低一半，呵呵，这样一来大家应该会比较容易记住才对的。如果保守点可以取0.6。当然了这更多的只是应用在电子产品中，如果是其它产品还是需要再确认的，任何东西都不可能通吃的，下面是是一些其它推荐供大家参考。</p>
<p>Silicon Oxide 1-1.05<br />
Electromigration 0.5-1.2<br />
Corrosion 0.3-.06, 0.45 typ.<br />
Internetallic Growth Al/Au 1-1.05<span id="more-867"></span> FAMOS Transistors<br />
Charge Loss 0.8<br />
Contamination 1.4<br />
Oxide Effects 0.3<br />
IC MOSFETs, Threshold Voltage Shift 1.2<br />
Plastic Excapsulated Transistors 0.5<br />
MOS Devices 1.1-1.3, Weak populations 0.3-0.9<br />
Flexible Printed Circuits Below 75C 0.4<br />
Flexible Printed Circuits above 75C 1.4<br />
Opto Electric devices &#8211; 0.4<br />
Photo Transistors 1.3<br />
Carbon Resistors 0.6<br />
LEDs 0.8<br />
Linear Op Amps 1.6-1.8, Weak populations 0.7-1.1</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/arrhenius_ea/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Handbook of Software Reliability Engineering</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/handbook_sw_reliability/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/handbook_sw_reliability/#comments</comments>
		<pubDate>Sun, 25 Mar 2012 09:05:53 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性手册]]></category>
		<category><![CDATA[软件]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=862</guid>
		<description><![CDATA[如果有人从事软件可靠性或者对于软件可靠性有兴趣的可以下载这本书参考下。 Edited by Michael R. Lyu Published by IEEE Computer Society Press and McGraw-Hill Book Company The book content here is free for use or link. Please cite the book properly in resulted publications. The Complete Book Content Content and Preface Chapter 1. Introduction Chapter 2. Software Reliability and System Reliability Chapter 3. Software Reliability [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>如果有人从事软件可靠性或者对于软件可靠性有兴趣的可以下载这本书参考下。</p>
<p>Edited by Michael R. Lyu<br />
Published by IEEE Computer Society Press and McGraw-Hill Book Company<br />
The book content here is free for use or link. Please cite the book properly in resulted publications.<br />
<a href="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/03/cover.jpg"><img class="aligncenter size-medium wp-image-863" title="cover" src="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/03/cover-205x300.jpg" alt="" width="205" height="300" /></a><br />
The Complete Book Content<br />
Content and Preface<br />
Chapter 1. Introduction<br />
Chapter 2. Software Reliability and System Reliability<br />
Chapter 3. Software Reliability Modeling Survey<br />
Chapter 4. Techniques for Prediction Analysis and Recalibration<br />
Chapter 5. The Operational Profile<br />
Chapter 6. Best Current Practice of SRE<br />
Chapter 7. Software Reliability Measurement Experience</p>
<p><span id="more-862"></span> Chapter 8. Measurement-Based Analysis of Software Reliability<br />
Chapter 9. Orthogonal Defect Classification<br />
Chapter 10. Trend Analysis<br />
Chapter 11. Field Data Analysis<br />
Chapter 12. Software Metrics for Reliability Assessment<br />
Chapter 13. Software Testing and Reliability<br />
Chapter 14. Fault-Tolerant Software Reliability Engineering<br />
Chapter 15. Software System Analysis Using Fault Trees<br />
Chapter 16. Software Reliability Simulation<br />
Chapter 17. Neural Networks for Software Reliability Engineering<br />
Apendix A. Software Reliability Tools<br />
Apendix B. Review of Reliabiltiy Theory, Analytical Techniques, and Basic Statistics<br />
Glossary and References</p>
<p>电子版下载地址：<a href="http://www.cse.cuhk.edu.hk/~lyu/book/reliability/" target="_blank">http://www.cse.cuhk.edu.hk/~lyu/book/reliability/</a></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/handbook_sw_reliability/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>Topics in Dependable Embedded Systems</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/reliability_report/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/reliability_report/#comments</comments>
		<pubDate>Sat, 24 Mar 2012 10:46:57 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=858</guid>
		<description><![CDATA[网上看到一些不错的内容，提供了网页版和PDF两种格式，大家可以去下面的网站访问详细内容，在这之前可以看下面的表格先，这样可以避免浪费大家的时间。 http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/contents.html 我把清单附上了，供大家参考。 TOPIC AUTHOR REPORT PRESENTATION Case Studies Mike Collins report .pdf slides Checkpoint/Recovery John DeVale report .pdf slides Data Sources Mike Collins report .pdf slides Dependability Standards Adrian Drury report .pdf slides Design Process/Market Forces Kanaka Juvva report .pdf slides Diagnosis/Prognosis Ying Shi report .pdf slides Distributed Dependability Rob Slater report .pdf slides [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>网上看到一些不错的内容，提供了网页版和PDF两种格式，大家可以去下面的网站访问详细内容，在这之前可以看下面的表格先，这样可以避免浪费大家的时间。</p>
<p><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/contents.html" target="_blank">http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/contents.html</a></p>
<p>我把清单附上了，供大家参考。</p>
<p><span id="more-858"></span></p>
<table border="1">
<tbody>
<tr>
<td align="CENTER"><strong>TOPIC</strong></td>
<td align="CENTER"><strong>AUTHOR</strong></td>
<td align="CENTER"><strong>REPORT</strong></td>
<td align="CENTER"><strong>PRESENTATION</strong></td>
</tr>
<tr>
<td>Case Studies</td>
<td>Mike Collins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/case_studies/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/case_studies/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Checkpoint/Recovery</td>
<td>John DeVale</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/checkpoint/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/checkpoint/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Data Sources</td>
<td>Mike Collins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/field_data/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/field_data/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Dependability Standards</td>
<td>Adrian Drury</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/standards/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/standards/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Design Process/Market Forces</td>
<td>Kanaka Juvva</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/design_process/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/design_process/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Diagnosis/Prognosis</td>
<td>Ying Shi</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/diagnosis_prognosis/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/diagnosis_prognosis/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Distributed Dependability</td>
<td>Rob Slater</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/distributed/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/distributed/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Electronic/Electrical Reliability</td>
<td>Mike Carchia</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/electronic_electrical/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/electronic_electrical/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Embedded Communications</td>
<td>Leo Rollins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/communications/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/communications/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>End-of-Life Wearout &amp; Replacement</td>
<td>Mike Collins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/end_of_life/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/end_of_life/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Environment/EMC/EMI</td>
<td>Eushiuan Tran</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/environment/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/environment/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Error Coding</td>
<td>Charles Shelton</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/coding/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/coding/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Ethics</td>
<td>Chris Inacio</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/ethics/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/ethics/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Exception Handling</td>
<td>Charles Shelton</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/exceptions/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/exceptions/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Fault Injection</td>
<td>Rob Slater</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/fault_injection/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/fault_injection/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Fault Tolerant Computing</td>
<td>Ying Shi</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/fault_tolerant/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/fault_tolerant/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Formal Methods</td>
<td>Mike Collins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/formal_methods/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/formal_methods/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Human Interface/Human Error</td>
<td>Charles Shelton</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/human/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/human/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>I/O</td>
<td>Leo Rollins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/i_o/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/i_o/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Maintenance and Dependability</td>
<td>Adrian Drury</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/maintenance/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/maintenance/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Manufacturing/Quality</td>
<td>Mike Scheinholtz</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/manufacturing_quality/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/manufacturing_quality/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Mechanical Reliability</td>
<td>Chris Inacio</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/mechanical/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/mechanical/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>MEMS</td>
<td>Jiantao Pan</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/mems/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/mems/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Multi-disciplinary Design</td>
<td>Phil Koopman</td>
<td>&#8212;</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/multi/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Non-Operating Reliability</td>
<td>Mike Carchia</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/non_operating/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/non_operating/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Profits &amp; Business Models</td>
<td>Mike Carchia</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/profits_business/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/profits_business/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Quality of Service</td>
<td>Kanaka Juvva</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/quality_of_service/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/quality_of_service/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Real Time Systems</td>
<td>Kanaka Juvva</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/real_time/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/real_time/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Reliability Growth</td>
<td>Ying Shi</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/reliability_growth/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/reliability_growth/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Requirements &amp; Specifications</td>
<td>Eushiuan Tran</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/requirements_specs/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/requirements_specs/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Robust Control Theory</td>
<td>Leo Rollins</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/control_theory/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/control_theory/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Safety Critical Systems/Analysis</td>
<td>Rob Slater</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/safety_critical/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/safety_critical/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Security</td>
<td>Kanaka Juvva</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/security/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/security/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Shoddy Spares &amp; Customer Circumvention</td>
<td>John DeVale</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/spares_customer/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/spares_customer/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Social/Legal Concerns</td>
<td>Adrian Drury</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/social_legal/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/social_legal/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Software Fault Tolerance</td>
<td>Chris Inacio</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_fault_tolerance/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_fault_tolerance/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Software Reliability</td>
<td>Jiantao Pan</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_reliability/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_reliability/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Software Safety</td>
<td>Mike Scheinholtz</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/software_safety/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/software_safety/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Software Testing</td>
<td>Jiantao Pan</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_testing/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/sw_testing/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>System Architecture Approaches</td>
<td>Mike Scheinholtz</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/system_architecture/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/system_architecture/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>System Life Cycle</td>
<td>Philip Koopman</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/life_cycle/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/life_cycle/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Traditional Reliability</td>
<td>John DeVale</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/traditional_reliability/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/traditional_reliability/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Ultra Dependability</td>
<td>Mike Scheinholtz</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/ultra_dependability/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/ultra_dependability/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
<tr>
<td>Verification/Validation/Certification</td>
<td>Eushiuan Tran</td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/verification/index.html">report</a></td>
<td><a href="http://www.ece.cmu.edu/~koopman/des_s99/verification/presentation.pdf">.pdf slides</a></td>
</tr>
</tbody>
</table>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/reliability_report/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>潍柴成立内燃机可靠性国际技术创新联盟</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/weichai/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/weichai/#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 23 Mar 2012 16:29:35 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[内燃机]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性]]></category>
		<category><![CDATA[潍柴]]></category>
		<category><![CDATA[联盟]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=853</guid>
		<description><![CDATA[潍柴成立内燃机可靠性国际技术创新联盟大会，这个新闻是1月份的了，不算很老，不知道大家如何看呢？无论如何这也是可靠性得到更多认可的表现了。 2012年1月8日，潍柴集团联合美国麻省理工学院、清华大学、博世等19家单位成立内燃机可靠性国际技术创新联盟大会。与此同时，潍柴科技创新大会也同步召开。潍柴董事长谭旭光为联盟揭牌并发表重要讲话。该创新联盟将在内燃机整机可靠性、关键零部件可靠性以及内燃机应用匹配可靠性等领域，深入开展技术研究与合作，目的在于搭建潍柴与国内外内燃机领域研究机构和科研院校沟通的平台，促进潍柴与联盟成员一对一的技术合作，完善潍柴技术创新支撑体系，进一步提升潍柴研发能力和产品的可靠性。创新联盟更专业，国际化因素很浓厚，在全球范围内寻找相互合作和帮助。这也是潍柴进军国际市场的另一重要里程碑。 内燃机可靠性国际技术创新联盟大会揭牌仪式 谭旭光董事长在创新大会现场提到，潍柴2011年有六大重要标志：以大中小柴油机协同发展为标志，搭建了一个全系列、全领域的产品平台；以联合成功开发蓝擎动力为标志，形成了一套自主创新的研发体系；以战略重组湘火炬和山东重工成立为标志，打造了一种产业协同的研发模式；以电控、新能源、动力总成等前沿技术研究所成立为标志，推进了一系列原创与核心技术的战略布局；以海内外高端人才踊跃加盟为标志，建设了一支初具规模的科技人才队伍；以“三高”精神的培育形成为标志，营造了一种全员竞相创新的文化氛围。基于此，潍柴公司不断创新和发展。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>潍柴成立内燃机可靠性国际技术创新联盟大会，这个新闻是1月份的了，不算很老，不知道大家如何看呢？无论如何这也是可靠性得到更多认可的表现了。</p>
<p>2012年1月8日，潍柴集团联合美国麻省理工学院、清华大学、博世等19家单位成立内燃机可靠性国际技术创新联盟大会。与此同时，潍柴科技创新大会也同步召开。潍柴董事长谭旭光为联盟揭牌并发表重要讲话。该创新联盟将在内燃机整机可靠性、关键零部件可靠性以及内燃机应用匹配可靠性等领域，深入开展技术研究与合作，目的在于搭建潍柴与国内外内燃机领域研究机构和科研院校沟通的平台，促进潍柴与联盟成员一对一的技术合作，完善潍柴技术创新支撑体系，进一步提升潍柴研发能力和产品的可靠性。创新联盟更专业，国际化因素很浓厚，在全球范围内寻找相互合作和帮助。这也是潍柴进军国际市场的另一重要里程碑。</p>
<p style="text-align: center;"><a href="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/03/weichai.jpg"><img class="aligncenter size-medium wp-image-856" title="weichai" src="http://www.mosch.cn/wp-content/uploads/2012/03/weichai-300x200.jpg" alt="" width="300" height="200" /></a><br />
内燃机可靠性国际技术创新联盟大会揭牌仪式<br />
<span id="more-853"></span><br />
谭旭光董事长在创新大会现场提到，潍柴2011年有六大重要标志：以大中小柴油机协同发展为标志，搭建了一个全系列、全领域的产品平台；以联合成功开发蓝擎动力为标志，形成了一套自主创新的研发体系；以战略重组湘火炬和山东重工成立为标志，打造了一种产业协同的研发模式；以电控、新能源、动力总成等前沿技术研究所成立为标志，推进了一系列原创与核心技术的战略布局；以海内外高端人才踊跃加盟为标志，建设了一支初具规模的科技人才队伍；以“三高”精神的培育形成为标志，营造了一种全员竞相创新的文化氛围。基于此，潍柴公司不断创新和发展。</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/weichai/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>HALT Prediction Patents</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/halt_patents/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/halt_patents/#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 22 Mar 2012 12:51:01 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[HALT]]></category>
		<category><![CDATA[专利]]></category>
		<category><![CDATA[可靠性预计]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=849</guid>
		<description><![CDATA[今天整理文件看到了HALT可靠性预计的专利信息，就顺便和大家分享一下吧。绝大多数人接触的HALT的假设首先就是HALT不能够进行可靠性预计，貌似这个和那个有些冲突，不过用HALT进行可靠性预计已经有些大公司接受了，所以说明其还是有一定的道理的，大家可以自己也思考看看。 有兴趣的可以网上搜索着几份标准来瞅瞅。 7260509: Method for estimating changes in product life resulting from HALT using quadratic acceleration m August 21, 2007 7149673: Method for estimating changes in product life for a redesigned product December 12, 2006 7120566: Method for estimating changes in product life resulting from HALT using exponential acceleration October 10, 2006 A method provides [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>今天整理文件看到了HALT可靠性预计的专利信息，就顺便和大家分享一下吧。绝大多数人接触的HALT的假设首先就是HALT不能够进行可靠性预计，貌似这个和那个有些冲突，不过用HALT进行可靠性预计已经有些大公司接受了，所以说明其还是有一定的道理的，大家可以自己也思考看看。</p>
<p>有兴趣的可以网上搜索着几份标准来瞅瞅。</p>
<p>7260509: Method for estimating changes in product life resulting from HALT using quadratic acceleration m<br />
August 21, 2007</p>
<p>7149673: Method for estimating changes in product life for a redesigned product<br />
December 12, 2006</p>
<p>7120566: Method for estimating changes in product life resulting from HALT using exponential acceleration<br />
October 10, 2006</p>
<p>A method provides early estimation of product life using accelerated stress testing data. In an embodiment, data measured from a product operating in a first, high-stress environment is used to predict how long the product will operate in a second, normal operating environment before failure</p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/halt_patents/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
		<item>
		<title>免费有限元分析工具</title>
		<link>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/fea/</link>
		<comments>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/fea/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 21 Mar 2012 04:03:03 +0000</pubDate>
		<dc:creator>mosch</dc:creator>
				<category><![CDATA[可靠性技术]]></category>
		<category><![CDATA[FEA]]></category>
		<category><![CDATA[有限元分析]]></category>
		<category><![CDATA[软件]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://www.mosch.cn/?p=843</guid>
		<description><![CDATA[今天发现一个网页提供了很多免费的有限元分析工具，有好有坏，如果有些公司出于版权的限制可以选者一下，由于我不从事有限元仿真，所以这些工具和一些商用工具比较起来到底有啥区别就有待大家去看了。 L I S A：LISA can be used for linear static, vibration, dynamic response, steady/transient heat transfer, buckling, incompressible fluid flow, seepage, electromagentic, electrostatic, D.C current &#38; acoustic analysis. Import and automesh CAD solid &#38; surface models. 2D automesher, hydrodynamic bearing modeler, pressure vessel component templates. An ActiveX port for your own client programs to [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>今天发现一个网页提供了很多免费的有限元分析工具，有好有坏，如果有些公司出于版权的限制可以选者一下，由于我不从事有限元仿真，所以这些工具和一些商用工具比较起来到底有啥区别就有待大家去看了。</p>
<p><a href="http://www.lisa-fet.com/download.htm">L I S A</a>：LISA can be used for linear static, vibration, dynamic response, steady/transient heat transfer, buckling, incompressible fluid flow, seepage, electromagentic, electrostatic, D.C current &amp; acoustic analysis. Import and automesh CAD solid &amp; surface models. 2D automesher, hydrodynamic bearing modeler, pressure vessel component templates. An ActiveX port for your own client programs to call the internal LISA functions including calling it&#8217;s sparse matrix solver. The program is very easy to use and the extensively documented user manual explains the how&#8217;s and why&#8217;s of everything fea in simple english. Easily the first choice for new entrants to FEA. 1300 node limit.</p>
<p><a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/S12.gif" target="_blank">Screen Shot</a> .<br />
Created by <a href="http://www.lisa-fet.com/" target="_blank">LISA-Finite Element Technologies</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://impact.sourceforge.net/">Impact</a>：Open source free explicit FE solver for high velocity &amp; large deformation analyses such as car crashes, press operations etc.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/impact.png" target="_blank">Screen Shot</a> .<br />
Platform &#8211; All operating systems</p>
<p><span id="more-843"></span></p>
<p><a href="http://mrl.sci.utah.edu/software?soft_id=7">FEBio</a>：Specialized elements to represent biological tissues such as tendons, muscles, basically any tissue that contain fibers. FEBio is a solver for biomechanical applications and is completely free. Also available are stand alone pre- &amp; post-processor programs that work with FEBio.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/febio.gif" target="_blank">Screen Shot</a> .<br />
Created by <a href="http://mrl.sci.utah.edu/software?soft_id=7" target="_blank">MRL at the University of Utah</a><br />
Platform &#8211; All operating systems</p>
<p><a href="http://www.autofea.com/Download-FEA-software.htm">J L Analyzer</a>：A fully functional, free FEA system limited to 300 nodes. Can be used for static linear as well as non-linear stress analysis, thermal analysis, dynamic analysis, thermal and seepage analysis. It comes with an integrated training Wizard and has a powerful CAD modeling interface.<br />
Created by <a href="http://www.autofea.com/" target="_blank">AutoFEA Engineering Software Technology,Inc</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://www.cadreanalytic.com/cadrelit..htm">CADRE</a>：Structural analysis shareware for 3D frame and beam type structures. The structure may be solved for displacements and loads under external loading conditions, vibration mode shapes, and vibration frequencies.<br />
Created by <a href="http://www.cadreanalytic.com/" target="_blank">CADRE Analytic Inc</a> .<br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://www.quickfield.com/free_soft.htm">QuickField</a>：For 2D Analysis of DC Magnetics, AC Magnetics, Electrostatics, Current flow, Heat transfer and Stress analysis. The maximum node limit is 500.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/quick.gif" target="_blank">Screen-Shot</a><br />
Created by <a href="http://www.quickfield.com/" target="_blank">Tera Analysis Ltd</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://femm.foster-miller.com/download.htm">FEMM</a>：A free FEA software for magnetic field analysis. Can be used for 2D planar &amp; axisymmetric problems. Constrained Delaunay triangulation auto-mesher.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/femm.gif" target="_blank">Screen-Shot</a><br />
Created by <a href="http://femm.foster-miller.com/">D.Meeker</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://www.autofemsoft.com/index.php?option=com_content&amp;view=article&amp;id=53&amp;Itemid=87&amp;lang=en">AutoFEM Lite</a>：Great choice for AutoCAD users moving into FEA, especially since there is no limitation on the maximum number of nodes. It does require you to have AutoCAD on your computer as it&#8217;s an AutoCAD add-on. This is a lite version of their commerical product offering static, frequency, buckling &amp; thermal analysis. As it is a free version, the following are the restrictions &#8211; only one solid object can be analysed at a time; for frequency analysis, only the first natural frequency is solved and for thermal analysis, only convection and fixed temperature boundary conditions can be applied.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/autofem.jpg" target="_blank">Screen Shot</a>.<br />
Created by <a href="http://www.autofemsoft.com/" target="_blank">AutoFEM Software JSC</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://ourworld.compuserve.com/homepages/cobus/download.htm">FesaWin</a>：Linear stress analysis with rod, beam, membrane &amp; plate elements. Node limit is 200.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/fesa.gif" target="_blank">Screen-Shot</a><br />
Created by <a href="http://ourworld.compuserve.com/homepages/cobus" target="_blank">Cobus FE Software</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://www.compassis.com/en/productos/ram-series/descargar.html">Ram-Series</a>：Ram Series for 2D &amp; 3D structural analyses. Powered by the GiD pre/post-processor. Max no. of elements 300.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/gid.gif" target="_blank">Screen-Shot</a><br />
Created by <a href="http://www.compassis.com/en/productos/ram-series/">Compass Ingenier�a y sistemas</a></p>
<p><a href="http://520028622800.bei.t-online.de/">UNA</a>：This is not a stand-alone FEA software, but is a Solver that has to be used with other Pre/Post &#8211; processors such as FEMAP, PATRAN, I-DEAS, NASTRAN. The solver can be used for static analysis, modal analysis, elastic buckling, substructuring, transient response, frequency response, random vibrations, aeroelastic response. It is a sparse linear matrix solver, sparse Lancos eigenvalue solver. Automatically eliminates local singularities, etc. Limited to 20,000 nodal degrees of freedom.<br />
Created by <a href="http://520028622800.bei.t-online.de/" target="_blank">Dr. Zoran Rudic</a><br />
Platform &#8211; Windows</p>
<p><a href="http://www.code-aster.org/">Code_Aster</a>：Free FEA system, part of the open source movement. Linear &amp; non-linear static/dynamic, thermal &amp; fluid analysis. You will need to compile the code for your machine. Software is in French.<br />
Created by <a href="http://www.code-aster.org/">EDF</a><br />
Platform &#8211; Linux, Solaris and IRIX 64 bits</p>
<p><a href="http://www.caelinux.com/">CAELinux</a>：A DVD image of Linux &amp; Code Aster which must be burnt as a bootable DVD. No installation required, simply boot-up from the DVD to have a version of Linux on your normal computer and Code Aster will be ready to run on your computer, it also uses the Salome open source pre &amp; post-processor. Non-linear thermo-mechanics, coupled fluid-structure dynamics, sismic / non-linear explicit dynamics, contact and visco-plasticity simulation.<br />
Created by <a href="http://www.caelinux.com/">Joel Cugnoni </a><br />
Platform &#8211; Linux</p>
<p><a href="http://www.geocities.com/Athens/2099/download.html">SLFFEA</a>：Free FEA system, part of the open source movement. Linear static analysis.<br />
<a href="http://www.freebyte.com/cad/screen/slfea.jpg" target="_blank">Screen Shot</a> .<br />
Created by <a href="http://www.geocities.com/Athens/2099/slffea.html">San Le</a><br />
Platform &#8211; Unix, Linux</p>
<p>这里没有列出全部清单，大家可以访问下面的网站查看全部的清单。另外还有一些其它工具，大家同样可以到下面的网页了解。</p>
<p><a href="http://www.freebyte.com/cad/fea.htm">http://www.freebyte.com/cad/fea.htm</a></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.mosch.cn/index.php/2012/03/fea/feed/</wfw:commentRss>
		<slash:comments>0</slash:comments>
		</item>
	</channel>
</rss>

