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MIL-HDBK-217G

Author mosch    Category 可靠性技术     Tags

在2010年的时候介绍过MIL-HDBK-217G已经计划中。后来一直没有关注过,这几天网上看到相关的信息才又想起来。所以又去查了一下,还没有正式发布,也就是说现在的F版本还是有效的,而那个版本却是早在1995年就已经发布了,对于电子产品实在是太古老了。

1995年发布了MIL-STD-217F后美国军方决定停止这个标准的更新。后续到是有RIAC发展了RIAC-HDBK-217PLUS,主要区别就是数据库更新一些,但是模型基本没有多大变化。但是由于美国后来陆续发现在使用民用器件的过程中武器的可靠性存在很多可靠性问题,故而又决定继续发展MIL-HDBK-217,延续之前的版本,新的版本号为G。在G版本中会补充最新的元器件失效数据,同时还会增加失效模式。我看到官方说征集意见稿的截止时间为2010年6月18日,但是现在都2012年了还没有任何的更新,不知道这个标准的更新项目是否出现了啥问题,所以才导致难产。无论如何MIL-HDBK-217F对于可靠性的推动是巨大的,希望能够看到这份标准的继续发展。

大家如果想了解的话可以去下面的网页查看,希望可以看到G版本发布的那一天吧。

https://www.fbo.gov/index?s=opportunity&mode=form&id=51743302924591515701cc3a298778c8&tab=core&_cview=0

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